ZEISS präsentiert auf der MC 2013 in Regensburg das erste FIB-SEM der neuen Crossbeam-Serie. Es zeichnet sich besonders durch seine hohe Geschwindigkeit bei der Materialanalyse und -bearbeitung sowie die große Applikationsvielfalt aus. So ist es Forschern möglich, Tomographieserien, die bislang mehrere Tage dauerten, über Nacht zu erstellen. Eine hohe Auflösung über den gesamten Spannungs- und Strombereich erlaubt Nutzern, schnell und präzise zu arbeiten. Das stabile System sorgt für reproduzierbare Ergebnisse auch bei Langzeit-Experimenten. Das Anwendungsgebiet wird zudem durch den optional verfügbaren Massive Ablation Laser erweitert, der zur Proben-Präparation eingesetzt wird und sehr schnell tiefliegende Bereiche der Probe freilegt.
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