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Messmethode für aktive nanoskalige Bauteile

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Egal wie groß Handys oder Computer sind - die Funktion solcher elektronischer Geräte hängt vor allem vom Zusammenwirken verschiedener Materialien ab. Deshalb müssen sowohl Ingenieure als auch Wissenschaftler genau wissen, wie sich bestimmte chemische Elemente innerhalb eines Computerchips bzw. einer Diode oder eines Transistors verhalten.  Physiker der Universität Jena haben jetzt eine neue Methode entwickelt, durch die sie mehrere Informationen gleichzeitig aus dem Inneren eines nanoskaligen Bauteils erhalten - während es sich im aktiven Zustand befindet. Über ihre Erkenntnisse berichten die Jenaer Wissenschaftler und ihre Partner in der aktuellen Ausgabe des Fachmagazins „Science Advances". cd

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